Risque de crédit - WMMF330

Ce cours est une introduction à la modélisation et à la gestion du risque de crédit. Après une brève analyse économique du risque de crédit et des problématiques associées, nous présenterons le segment le plus liquide du marché des dérivés de crédit. Nous étudierons en particulier les swaps de défaut (CDS), les indices de CDS (indice iTraxx, indice CDX), les tranches de CDO synthétique, les CDOs à tranche unique ou tranches bespokes et les tranches standardisées de CDO sur indice. Nous décrirons ensuite les principales caractéristiques des modèles classiques d’évaluation du risque d’un défaut (modèle structurel/ moldèle à intensité). La suite du cours sera consacrée à la modélisation des portefeuilles de crédit et à l’évaluation des tranches de CDO. Nous nous concentrerons dans un premier temps sur la classe des modèles à facteur pour laquelle les temps de défaut sont supposés être conditionnellement indépendants. Nous verrons qu’il existe des méthodes numériques efficaces pour déterminer la loi de la perte agrégée sous cette hypothèse. Cette classe de modèles regroupe un certains nombres d’approches couramment étudiées tels que les modèles basés sur des fonctions copules, les modèles structurels multivariés, les modèles à chocs communs et les modèles à intensité affine. Nous comparerons les performances de ces approches en termes de calibration. Enfin, nous verrons certains aspects du problème de la couverture des tranches de CDO en comparant l’approche standard de marché à d’autres approches basées sur des arguments de réplication.

Base de calcul stochastique

CONTRÔLE CONTINU :
Type d'évaluation (ex : TP, assiduité, participation) :

SESSION NORMALE :
Type d'examen (écrit, oral, examen sur machine) : examen écrit.
Salle spécifique :
Durée :
Documents autorisés (ex : aucun, résumé feuille A4 manuscrite, dictionnaires, tous documents) :
Documents interdits (ex : livres, tous documents) :
Matériel (ex : calculatrices):

• matériel autorisé, préciser :
• matériel interdit, préciser :
  Commentaires :

SESSION DE RATTRAPAGE :
Type d'examen (écrit, oral, examen sur machine) :
Salle spécifique :
Durée :
Documents autorisés (ex : aucun, résumé feuille A4 manuscrite, dictionnaires, tous documents) :
Documents interdits (ex : livres, tous documents) :
Matériel (ex : calculatrices):

• matériel autorisé, préciser :
• matériel interdit, préciser :
  Commentaires :

N1=E1
N2=E2